Charles Möhl*, Annina Riedhauser*, Max Glantschnig†, Daniele Caimi, Ute Drechsler, Antonis Olziersky, Deividas Sabonis, David I. Indolese, Thomas M. Karg‡ et al.
Paul Seidler§
Hiu Yung Wong
IEEE Electron Devices Rev. 3 125 (2026)